|
В данном разделе представлены Рефераты российских патентных документов.
Здесь Вы можете провести патентный анализ, а также приобрести полный комплект документов по патенту. Стоимость 1 патента — 150 руб. (НДС не облагается).
Поиск информации осуществляется посредством определения соответствующих критериев поиска в форме "Поиск патентов"
Патенты, представленные в данном разделе, классифицированы с использованием классификатора МПК (Международный патентный классификатор). Подробную информацию о классификаторе смотрите здесь.
Вы можете двигаться по "дереву" классификатора, а также осуществлять поиск по классификатору, вводя условие поиска в форму "Поиск в МПК".
Капустинская Наталья - менеджер, тел. (3812) 31-17-14 E-mail: adm311714@yandex.ru
| МПК » G » G01 » G01J » G01J009/00 |
|
Измерение оптической разности фаз (управление фазой световых лучей G 02F 1/01); определение степени когерентности; измерение оптической длины волны (спектрометрия G 01J 3/00)[3]
G01J009/02: .методами интерферометрии (использование интерферометров для оптических методов измерения линейных размеров предметов G 01B 9/02)[3]
|
Всего позиций: 21 [1-21]
Всего позиций: 21 [1-21]
|
Поиск патентов