RU 2321876 С2, 10.04.2008. RU 2078364 C1, 27.04.1997. SU 1296873 A1, 15.03.1987. JP 2000310600 A, 07.11.2000.
Имя заявителя:
Российская Федерация, от имени которой выступает Государственная корпорация по атомной энергии "Росатом" (RU), Федеральное государственное унитарное предприятие "Российский Федеральный ядерный центр - Всероссийский научно-исследовательский институт экспериментальной физики" - ФГУП "РФЯЦ-ВНИИЭФ" (RU)
Изобретатели:
Баранов Виктор Константинович (RU) Голубинский Анатолий Григорьевич (RU) Ириничев Дмитрий Альбертович (RU) Сасик Владимир Савельевич (RU) Хатункин Виталий Юрьевич (RU) Хворостин Владимир Николаевич (RU)
Патентообладатели:
Российская Федерация, от имени которой выступает Государственная корпорация по атомной энергии "Росатом" (RU) Федеральное государственное унитарное предприятие "Российский Федеральный ядерный центр - Всероссийский научно-исследовательский институт экспериментальной физики" - ФГУП "РФЯЦ-ВНИИЭФ" (RU)
Реферат
Изобретение может быть использовано при регистрации быстропротекающих процессов. Согласно способу при взаимодействии исследуемого процесса с датчиком, разрушающимся при контакте с исследуемым процессом, датчик подсвечивают внешним источником света и осуществляют фоторегистрацию отраженного от поверхности контактного датчика света с помощью ПЗС-матрицы. Измеряют величину электрического заряда, накопленного в течение времени экспонирования ПЗС-матрицы. По величине электрического заряда определяют моменты разрушения участков датчика и по разности величин зарядов в различных пикселях ПЗС-матрицы определяют интервал времени между моментами взаимодействия процесса с участками датчика. Устройство включает контактный датчик, внешний источник света и ПЗС-матрицу, установленную в плоскости изображения контактного датчика. Часть датчика выполнена в виде контактной поверхности, отражающей свет от источника. Источник света снабжен оптическим модулятором и/или ПЗС-матрица снабжена оптическим затвором, определяющим длительность экспонирования ПЗС-матрицы. Технический результат - повышение точности измерений интервалов времени, увеличение пространственного разрешения измерений исследуемых процессов, увеличение числа каналов параллельных измерений интервалов времени, в техническом упрощении и расширении экспериментальных возможностей применения. 2 н. и 11 з.п. ф-лы, 18 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента