WO 2006079443 A1, 03.08.2006. US 20030136195 A1, 24.07.2003. EP 0841580 A2, 13.05.1998. SU 1439486 A1, 23.11.1988. SU 1663532 A1, 15.07.1991. SU 1065767 A1, 07.01.1984.
Использование: для неразрушающего контроля материала испытываемого объекта с помощью ультразвуковых волн. Сущность: заключается в том, что выполняют следующие этапы: подразделение при компьютерной поддержке испытываемого объекта (10) на предварительно определенное число объемных элементов (30); нагружение испытываемого объекта (10) звуковым полем (14) во время сканирования поверхности или, по меньшей мере, участка поверхности испытываемого объекта (10); регистрацию отраженных на объемных элементах звуковых волн во время сканирования поверхности или, по меньшей мере, участка поверхности испытываемого объекта (10); суммирование с учетом фазы звуковых волн, отраженных на одних и тех же объемных элементах (30) и зарегистрированных на различных измерительных позициях (22, 24, 26) на поверхности испытываемого объекта (10), при этом в каждой измерительной позиции (22, 24, 26) центральный луч (16) направляется на объемный элемент (30), а центральный луч (16) имеет максимальную интенсивность звукового поля (14), и множество краевых лучей (18) имеют, соответственно, половину от максимальной интенсивности звукового поля (14), и причем при программировании ориентации щупа (12) зависимая от направления чувствительность учитывается уже при измерении за счет того, что устанавливается коррекция угла-амплитуды (ААС). Технический результат: повышение степени достоверности неразрушающего контроля объекта. 2 н. и 13 з.п. ф-лы, 3 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента