

	Главная Патентный отдел Технологии Справочник ГРНТИ Прием Наши координаты Обратная связь

Поиск патентов

Оформить заказ и задать интересующие Вас вопросы Вы можете напрямую c 6-00 до 14-30 по московскому времени кроме сб, вс. whatsapp 8-950-950-9888

Патентный отдел

На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента

Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»

Вернуться к списку

ИЗМЕРЕНИЕ ТЕМПЕРАТУРЫ В КРИСТАЛЛИЗАТОРЕ ОПТОВОЛОКОННЫМ СПОСОБОМ ИЗМЕРЕНИЯ

Номер публикации патента: 2466822

Вид документа:	C2
Страна публикации:	RU
Рег. номер заявки:	2011104721/02

Получить полное описание патента

Редакция МПК:	6
Основные коды МПК:	B22D002/00 B22D011/18
Аналоги изобретения:	JP 09-047855 A, 18.02.1997. RU 2015821 C1, 15.07.1994. EP 0305832 A2, 08.03.1989. DE 102006036708 A1, 07.02.2008.

Имя заявителя:	СМС ЗИМАГ АГ (DE)
Изобретатели:	АРЦБЕРГЕР Маттиас (DE) ЛИФТУХТ Дирк (DE)
Патентообладатели:	СМС ЗИМАГ АГ (DE)
Приоритетные данные:	10.07.2008 DE 102008032341.1 04.12.2008 DE 102008060507.7

Реферат

Изобретение относится к металлургии, в частности к непрерывной разливке металлов. Измерение температуры в кристаллизаторе осуществляют с помощью светодиодов, на которые направляется лазерное излучение. Светодиоды размещают в пазах на внешней стороне медной пластины кристаллизатора. С помощью системы регистрации температуры может определяться температура вдоль измерительного волокна в нескольких точках измерения. Достигается повышение пространственной разрешающей способности при регистрации температуры в кристаллизаторе по сравнению с известными системами регистрации температуры с помощью термоэлементов. 2 н. и 10 з.п. ф-лы, 5 ил.

Вернуться к списку

Дирекция сайта "Промышленная Сибирь"
Россия, г.Омск, ул.Учебная, 199-Б, к.408А
Сайт открыт 01.11.2000
© 2000-2018 Промышленная Сибирь

Разработка дизайна сайта:
Дизайн-студия "RayStudio"