RU 2324205 C1, 10.05.2008. WO 2006/108971 A1, 19.10.2006. US 4534019 A1, 06.08.1985. SU 289377 A, 02.11.1971.
Имя заявителя:
Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Новосибирский национальный исследовательский государственный университет" (Новосибирский государственный университет, НГУ) (RU)
Изобретатели:
Романенко Юрий Андреевич (RU) Максимов Леонид Анатольевич (RU) Куликов Вячеслав Александрович (RU) Шемякин Марк Леонидович (RU) Изаров Валентин Тимофеевич (RU) Лукашов Герольд Александрович (RU)
Патентообладатели:
Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Новосибирский национальный исследовательский государственный университет" (Новосибирский государственный университет, НГУ) (RU)
Реферат
Изобретение относится к сейсмической разведке и может быть использовано для построения изображений сложно построенных сред в виде глубинного разреза A(x,h). Сущность способа состоит в том, что для каждой отображаемой точки OT(x0,h 0) глубинного разреза осуществляют обзор волнового поля A(x,t) на n сейсмограммах. Обзор при последовательной переборке v приращений скоростей V производят псевдосинфазными накоплениями вдоль виртуальных годографов по сигналов в каждом цуге колебаний Fm, зарегистрированных СП от q ракурсов угла падения сейсмических границ. Интерактивный режим интерпретации и коррекцию заданных диапазонов V,v и ,q осуществляют построением окон обзора достоверности (ООД) на основе визуализации до n матриц энергии функционалов F Wm(,V) в виде изолиний, гистограмм или иных способов. В пределах ООД находят для заданного типа волны максимум функционала статистической обработки Fmax(,V), документируют найденную интенсивность ОТ в соответствии с Fmax(,V), скоростью и углом падения границы в ОТ на глубинном разрезе. Подобным способом снова строят последующую ОТ и так далее до полного построения глубинного разреза. Технический результат: повышение достоверности построения глубинного разреза с использованием по отдельности (до n) единичных сейсмограмм. 1 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента