RU 2164679 С2, 27.03.2001. RU 2164686 С1, 27.03.2001. ЕР 1621872 А2, 01.02.2006. ЕР 1880198 В1, 24.06.2009.
Имя заявителя:
Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Санкт-Петербургский государственный университет технологии и дизайна" (RU)
Изобретатели:
Шляхтенко Павел Григорьевич (RU) Нефедов Валерий Петрович (RU) Ветрова Юлия Николаевна (RU) Рудин Александр Евгеньевич (RU) Сухарев Павел Андреевич (RU)
Патентообладатели:
Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Санкт-Петербургский государственный университет технологии и дизайна" (RU)
Реферат
Изобретение относится к способам контроля анизотропии углового распределения волокон в плоских волокнистых материалах и связанных с этим распределением технологических параметров и может быть использовано при решении вопросов повышения качества таких материалов и контроля качества работы производящего оборудования. Способ заключается в том, что изображение поверхности исследуемого материала на прозрачной основе освещают параллельным пучком света перпендикулярно его поверхности и анализируют распределение прошедшего сквозь это изображение светового потока в соответствующей фраунгоферовой дифракционной картине. Причем измеряют угловую зависимость светового потока в дифракционной картине, попадающего в кольцо с радиусами R1, R2 (R2>R1), центр которого совпадает с центральным максимумом дифракционной картины, и по этой зависимости судят о анизотропии углового распределения волокон в исследуемом материале. Технический результат заключается в расширении возможностей дифракционного метода для нахождения из фраунгоферовой дифракционной картины функции углового распределения волокон для материалов, имеющих хаотическое распределение волокон в геометрической структуре, независимо от ее оптических свойств, толщины и физической природы входящих в материал волокон. 6 ил., 1 табл.
Поиск патентов
Получить полное описание патента