US 4854707 А, 08.08.1989. JP 2007147368 A, 14.06.2007. US 4311383 A, 19.01.1982. EP 0924493 A1, 23.06.1999. SU 315912 A1, 13.12.1972. JP 0054095269 A, 27.07.1979.
Имя заявителя:
СИКОРА АГ (DE)
Изобретатели:
СИКОРА Харальд (DE)
Патентообладатели:
СИКОРА АГ (DE)
Приоритетные данные:
21.08.2008 DE 102008039025.9
Реферат
Способ содержит этапы: направляют первый и второй оптический луч перпендикулярно экструдату и принимают его посредством первой принимающей поверхности первого датчика изображений в заданной первой точке на противоположной стороне экструдата; анализируют в заданные моменты времени первые дифракционные картины, отображенные на границах тени на первой принимающей поверхности, с целью определения, по меньшей мере, одного характеризующего контур поверхности признака и сохраняют его; направляют второй оптический луч перпендикулярно экструдату на вторую принимающую поверхность первого или второго датчика изображений, расположенную в направлении подачи экструдата во второй точке, отстоящей от первой точки первой принимающей поверхности, на той же стороне, что и первая принимающая поверхность; анализируют вторые дифракционные картины с целью определения, по меньшей мере, одного характеризующего контур поверхности признака; определяют, через какой промежуток времени характеризующий признак первой дифракционной картины будет приблизительно коррелировать с характеризующим признаком второй дифракционной картины, определяют скорость подачи экструдата и длину протянутого экструдата. Технический результат - повышение точности результатов измерений. 9 з.п. ф-лы, 4 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента