Учреждение Российской академии наук Институт проблем управления им. В.А. Трапезникова РАН (RU)
Изобретатели:
Ахобадзе Гурам Николаевич (RU)
Патентообладатели:
Учреждение Российской академии наук Институт проблем управления им. В.А. Трапезникова РАН (RU)
Реферат
Изобретение относится к области измерительной техники, а именно к способу определения толщины металлического покрытия, нанесенного на диэлектрическую основу, при котором зондируют металлическое покрытие электромагнитным сигналом излучателя. Повышение точности измерения толщины металлического покрытия является техническим результатом изобретения. Способ основан на измерении и преобразовании результирующей интенсивности двух интерференционных волн электромагнитных сигналов отражения и излучателя с последующим вычислением толщины с использованием математической формулы. 1 ил.