RU 2130763 С1, 27.05.1999. RU 2002104168 А, 27.10.2003. RU 2256433 С1, 20.07.2005. САВИЦКИЙ Г. и др. Оттопыренные ушные раковины. Метод «бесшовного» моделирования хряща. Эстетическая медицина 2002; 2(1):30-36. OWSLEY T.G. Otoplastic surgery for the protruding ear. Atlas Oral Maxillofac Surg Clin North Am. 2004 Mar; 12(1):131-9.
Имя заявителя:
Бяков Николай Иванович (RU), Бякова Елена Николаевна (RU)
Изобретатели:
Бяков Николай Иванович (RU) Бякова Елена Николаевна (RU)
Патентообладатели:
Бяков Николай Иванович (RU) Бякова Елена Николаевна (RU)
Реферат
Изобретение относится к области медицины, а именно к оториноларингологии и эстетической хирургии, оно может быть использовано при хирургическом лечении лопоухости. Способ включает разметку границ моделируемого противозавитка, осуществление доступа к передней поверхности хряща ушной раковины, нанесение множественных продольных насечек в области формируемого противозавитка и его латеральной ножки, фиксацию формируемого противозавитка. При этом дополнительно в области нижней и средней трети ушной раковины и области верхего конца латеральной ножки формируемого противозавитка наносят реперные точки. По этим точкам на задней поверхности ушной раковины делают три кожных прокола. Причем в области верхнего конца латеральной ножки - сквозной через хрящ. Затем через последний прокол с помощью распатора осуществляют доступ к передней и задней поверхности хряща уха до границы реперных точек. После нанесения насечек на передней поверхности хряща в области трех проколов выполняют подкожную фиксацию моделируемого противозавитка. При этом каждый раз вкол иглы осуществляют в один из проколов на задней поверхности уха. Затем осуществляется по 4 выкола и вкола в четырех реперных точках с протягиванием нити под кожей и хрящем. Окончательный выкол проводят из того же прокола на задней поверхности уха. Использование данного изобретения позволяет уменьшить травматичность операции, снизить период послеоперационной реабилитации, повысить эстетический результат. 2 пр., 5 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента