WO 2005109316 А2, 17.11.2005. WO 0104842 A1, 18.01.2001. US 6980677 B2, 27.12.2005. US 6674882 B1, 06.01.2004. US 2006036373 A1, 16.02.2006. RU 2126552 C1, 20.02.1999.
Имя заявителя:
КОНИНКЛЕЙКЕ ФИЛИПС ЭЛЕКТРОНИКС Н.В. (NL)
Изобретатели:
АГНИХОТРИ Лалита (US) ШАФФЕР Джеймс Дэвид (US) ДИМИТРОВА Невенка (US)
Патентообладатели:
КОНИНКЛЕЙКЕ ФИЛИПС ЭЛЕКТРОНИКС Н.В. (NL)
Приоритетные данные:
01.12.2006 US 60/868,129 04.06.2007 US 60/941,706
Реферат
Изобретение относится к способу автоматического определения положений зондов в изображении микроматрицы. Техническим результатом является расширение функциональных возможностей за счет применения к изображению многопроходного алгоритма нахождения углов. Способ автоматической идентификации углов и зондов чипа микроматрицы, даже в отсутствие зондов в углах, в сканированном изображении микроматрицы высокой плотности и высокого разрешения, имеющем пространство изображения, в котором способ минимизирует ошибочные искажения в изображении, содержит этапы, на которых: применяют преобразование Радона к входному изображению микроматрицы для проецирования изображения в пространство углов и расстояний, когда это возможно, для нахождения ориентации прямых линий; применяют быстрое преобразование Фурье к спроецированному изображению, полученному на этапе, для нахождения оптимального угла наклона спроецированного изображения; определяют оптимальные первый и последний локальные максимумы для оптимального угла наклона; выполняют обратную проекцию определенных первого и последнего локальных максимумов в пространство изображения для нахождения, в первом приближении, первой и последней вертикальных линий изображения; поворачивают изображение; определяют, в первом приближении, четыре угла изображения из пересечения вертикальных и горизонтальных линий; применяют эвристику для определения, достаточно ли первого приближения; и, опционально, обрезают сканированное изображение вокруг первого приближения четырех углов. 9 з.п. ф-лы, 9 ил., 4 табл.
Поиск патентов
Получить полное описание патента