Использование: для неразрушающего контроля материала испытываемого объекта с помощью ультразвуковых волн. Сущность: заключается в том, что осуществляют подразделение, с помощью компьютера, испытываемого объекта (10) на предварительно определенное число объемных элементов; нагружают испытываемый объект (10) ультразвуком на множестве элементов поверхности во время сканирования поверхности или, по меньшей мере, участка поверхности испытываемого объекта (10); регистрируют отраженные на объемных элементах акустические волны во время сканирования множества элементов поверхности на поверхности или, по меньшей мере, участке поверхности испытываемого объекта (10) и суммируют в фазе отраженные на тех же самых объемных элементах и зарегистрированные на различных элементах поверхности испытываемого объекта (10) акустические волны внутри предварительно определенного интервала углов () вокруг акустической оси, причем е) применяется зависимое от угла распределение амплитуд (Н0) в акустическом поле щупа (16), при этом зависимое от угла распределение амплитуд (Н0) в акустическом поле щупа (16) применяется для определения амплитуд отраженных акустических волн, и определенное число (m) амплитуд внутри предварительно определенного интервала углов () вокруг акустической оси суммируется, чтобы вычислить величину опорного отражателя, который формировал бы такую же сумму амплитуд (HSum). Технический результат: обеспечение возможности нахождения и/или идентификации дефектов материала в относительно больших испытываемых объектах с достаточной точностью. 2 н. и 17 з.п. ф-лы, 5 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента