JP 2001-234119 А, 28.08.2001. JP 2001-019902 A, 23.01.2001. JP 2001-164182 A, 19.06.2001. JP 2006-052462 A, 23.02.2006. RU 2005129537 A, 10.03.2006. RU 2004110933 A, 10,10.2005.
Имя заявителя:
НИППОН СТИЛ КОРПОРЕЙШН (JP), МИЦУИ КЕМИКАЛЗ ПОЛИЮРИФЕЙНС, ИНК. (JP)
Изобретение относится к поверхностной обработке металлических материалов для придания им превосходной коррозионной стойкости, адгезии к покровному слою краски, устойчивости к растворителям и щелочам, хорошей обрабатываемости и сопротивления царапанию. Металлический материал имеет пленку, сформированную, по меньшей мере, на части его поверхности, содержащую, по меньшей мере, полиуретановый полимер и оксид кремния, при этом полиуретановый полимер содержит одну или более из силоксановой связи, связи, образованной путем дегидратационной конденсации силанольной группы с другой функциональной группой, и силанольный фрагмент, и мочевинный фрагмент, в которой сумма силоксановых связей, связей, образованных путем дегидратационной конденсации силанольных групп с другими функциональными группами, общего количества силанольных фрагментов и оксида кремния находится в пределах диапазона для твердых веществ пленки, выраженного следующим уравнением: 1,6 вес.% ((Wa+Wb+Wc+Wd)/W)×10025 вес.%, где W - общий вес твердых веществ пленки, Wa - вес кремния, формирующего силоксановую группировку (-Si-O-Si-), Wb - вес кремния, формирующего связь, образованную дегидратационной конденсацией (-Si-O-R-), R - любой элемент, иной, нежели Si, Wc - вес кремния, формирующего силанольный фрагмент (-Si-OH), и Wd - вес кремния, формирующего оксид кремния, при этом отношение общего количества мочевинных фрагментов и уретановых фрагментов к общему количеству полимерных компонентов находится в пределах диапазона, выраженного следующим уравнением: 0,1 вес.% ((Та+Tb)/Т)×10010 вес.%, где Т - вес полимерных компонентов в твердых веществах пленки, Та - вес азота, формирующего мочевинный фрагмент (-NH-CO-NH), и Tb - вес азота, формирующего уретановый фрагмент (-NH-CO-O-). 2 н. и 18 з.п. ф-лы, 3 табл.
Поиск патентов
Получить полное описание патента