WO 2008070788 A2, 12.06.2008. RU 2283485 C2, 10.09.2006. SU 1800333 А1, 07.03.1993. RU 2086963 C1, 10.08.1997. SU 131138 А1, 08.01.1960. US 20050104603 А1, 19.05.2005. US 4651085 А, 17.03.1987. СА 2388394 А1, 30.11.2003. US 4234844 А, 18.11.1980.
Имя заявителя:
Общество с ограниченной ответственностью "Научно-технический центр прикладной физики" (ООО "НТЦ ПФ") (RU)
Изобретатели:
Кузнецов Андрей Викторович (RU) Горшков Игорь Юрьевич (RU) Воробьев Станислав Игоревич (RU) Карпов Константин Сергеевич (RU) Аверьянов Валерий Петрович (RU)
Патентообладатели:
Общество с ограниченной ответственностью "Научно-технический центр прикладной физики" (ООО "НТЦ ПФ") (RU)
Реферат
Использование: для дистанционного досмотра цели в контролируемой области пространства. Сущность: заключается в том, что осуществляют облучение контролируемой области СВЧ-излучением с помощью двух или более элементарных СВЧ-излучателей, регистрацию отраженного от контролируемой области сигнала с помощью одного или более параллельных каналов регистрации, когерентную обработку зарегистрированного сигнала с получением максимальных значений интенсивности восстановленной конфигурации рассеивателей в области досмотра в зависимости от дальности элементарных излучателей до цели и отображение полученной в результате обработки информации путем построения СВЧ-изображения соответствующий трехмерной поверхности, при этом дополнительно получают видеоизображение цели с помощью двух или более видеокамер, синхронизированных с СВЧ-излучателями, преобразуют полученное видеоизображение в цифровой вид и строят трехмерное видеоизображение цели, переводят трехмерное видеоизображение и СВЧ-изображение в общую систему координат, определяют расстояние l в общей системе координат между СВЧ- и видеоизображениями, при lo, где lo - заданное пороговое значение l, констатируют отсутствие у цели скрытого диэлектрического объекта в количестве, превышающем предельно допустимое значение, а при llo дополнительно определяют наличие впадин в трехмерном СВЧ-изображении в областях, где llo и при глубине h впадины больше , где ho - пороговое значение h, - значение диэлектрической проницаемости искомого диэлектрического объекта, констатируют наличие у цели скрытого диэлектрического объекта. Технический результат: повышение достоверности определения наличия или отсутствия диэлектрических объектов при скрытом досмотре, а также расширение диапазона возможных ракурсов досмотра.
Поиск патентов
Получить полное описание патента