RU 2057286 C1, 27.03.1996. RU 2169348 C1, 20.06.2001. SU 794364 A1, 07.01.1981. EP 1918673 A1, 07.05.2008. JP 2006329673 A, 07.12.2006.
Имя заявителя:
Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Ростовский военный институт ракетных войск им. Главного маршала артиллерии М.И. НЕДЕЛИНА" Министерства обороны Российской Федерации (RU)
Изобретатели:
Мирошниченко Игорь Павлович (RU) Нестеров Владимир Александрович (RU) Серкин Александр Геннадьевич (RU) Сизов Валерий Павлович (RU) Шевцов Владимир Александрович (RU)
Патентообладатели:
Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Ростовский военный институт ракетных войск им. Главного маршала артиллерии М.И. НЕДЕЛИНА" Министерства обороны Российской Федерации (RU)
Реферат
Изобретение предназначено для измерения малых перемещений поверхностей объектов контроля и основано на применении оптических интерференционных методов. Устройство содержит оптически связанные и последовательно размещенные источник когерентного оптического излучения, оптическую систему, светоделитель, отражатель, экран и фотоприемное устройство. Отражатель закреплен на поверхности объекта контроля, жестко скрепленного с опорным основанием, и расположен под углом к светоделителю. Также на опорном основании жестко закреплен имитатор объекта контроля. На поверхности имитатора установлен дополнительный отражатель, который размещен в одной плоскости с отражателем на поверхности объекта контроля. Имитатор выполнен с возможностью регулировки положения дополнительного отражателя. В плоскости экрана в области интерференционной картины установлено фотоприемное устройство и дополнительное фотоприемное устройство. На экран дополнительно спроецирована интерференционная картина от дополнительного отражателя. Выходы фотоприемных устройств электрически соединены со входами дифференциального усилителя, выход которого связан с устройством регистрации, обработки и отображения результатов измерений. Технический результат - повышение точности результатов измерений малых перемещений поверхности объектов контроля. 4 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента