RU 2264674 C2, 20.11.2005. RU 2140092 C1, 20.10.1999. US 7297959 B2, 20.11.2007. JP 3242590 A, 29.10.1991.
Имя заявителя:
Закрытое акционерное общество Научно-производственная организация "Информационные системы и наукоемкие технологии" (ЗАО НПО "ИСИНТЕК") (RU), Федеральное агентство по образованию Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Московский государственный университет леса" (ГОУ ВПО "МГУЛ") (RU)
Изобретатели:
Бондур Валерий Григорьевич (RU) Давыдов Вячеслав Федорович (RU) Бурков Валерий Дмитриевич (RU) Батырев Юрий Павлович (RU)
Патентообладатели:
Закрытое акционерное общество Научно-производственная организация "Информационные системы и наукоемкие технологии" (ЗАО НПО "ИСИНТЕК") (RU) Федеральное агентство по образованию Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Московский государственный университет леса" (ГОУ ВПО "МГУЛ") (RU)
Реферат
Изобретение относится к области ядерной физики и может быть использовано в научно-измерительной аппаратуре, а также при разработке средств оперативного обнаружения и идентификации контрабандных материалов. Измеритель спектров сигналов откликов атомных элементов на проникающее облучение содержит сборку сцинтилляционных пластин, волокна-файберы, уложенные в профильные канавки пластин, к торцу файберов приклеена светособирающая линза, формирующая световой пучок для ввода в акустооптический фильтр с линейным изменением частоты настройки от генератора накачки фильтра, последовательно подключенные к выходу фильтра лавинный фотодиод, аналого-цифровой преобразователь, буферное запоминающее устройство и компьютер, осуществляющий визуализацию регистрируемых спектров сигналов, а также синхронизацию работы элементов устройства и регулирование длительности импульсов линейной перестройки акустооптического фильтра от генератора накачки путем закладываемой в компьютер телекоммуникационной программы. Технический результат - повышение точности измерений формы спектров сигналов откликов для достоверной идентификации атомных элементов. 4 ил., 1 табл.
Поиск патентов
Получить полное описание патента