WO 2004/104604 A1, 02.12.2004. RU 2104883 C1, 20.02.1998. DE 4445903 A1, 04.07.1996. US 4989146, 29.01.1991. US 5041976, 20.08.1991. US 5781871 A, 14.07.1998.
Изобретение относится к диагностике мехатронной системы. Изобретение позволяет проводить диагностику сложной мехатронной системы в условиях эксплуатации при ограниченных вычислительных возможностях установленного на ней диагностического устройства управления. Способ основанной на модели диагностики мехатронной системы предусматривает обнаружение (5) неисправностей, выполняемое устройством управления внутри мехатронной системы, и идентификацию (7) неисправностей, выполняемую вычислительным устройством вне мехатронной системы. При обнаружении (5) неисправностей фактические значения (y) для выходных сигналов на выходах системы, а также вектор времени (t) записывают в память с управлением по обнаружению неисправностей. Из фактического значения (y) выходного сигнала вычитают заданное значение (y') выходного параметра. При этом наличие неисправности устанавливают в том случае, если остаточное значение (г) превышает максимально допустимое пороговое значение (rmax) обнаружения. 2 н. и 4 з.п. ф-лы, 4 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента