US 2007/0168735 A1, 19.07.2007. RU 2109329 C1, 20.04.1998. US 2006/0179363 A1, 10.08.2006. US 7181360 B1, 20.02.2007. SU 1160420 A2, 07.06.1985.
Имя заявителя:
Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет "ЛЭТИ" им. В.И. Ульянова (Ленина)" (СПбГЭТУ "ЛЭТИ") (RU)
Изобретатели:
Дейнека Дмитрий Иванович (RU) Лучинин Виктор Викторович (RU)
Патентообладатели:
Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет "ЛЭТИ" им. В.И. Ульянова (Ленина)" (СПбГЭТУ "ЛЭТИ") (RU)
Реферат
Изобретение относится к микро- и нанотехнологии и может быть использовано при контроле и диагностировании микропроцессорных систем. Техническим результатом изобретения является расширение функциональных возможностей автоматизированного устройства за счет возможности выявления недокументированных узлов и команд в микропроцессорной системе. Автоматизированное устройство для тестирования микропроцессорных систем содержит: модуль тестирования (1), блоки постоянного (2) и оперативного (3) хранения данных, блок обработки результатов и информации (5), блок управления (4), представляющий собой коммутатор, задатчик (8), первый (6) и второй (7) интерфейсы. Блоки постоянного (2) и оперативного (3) хранения данных и блок управления (4) могут быть сформированы в составе тестируемого объекта. 1 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента