ПОДЛОЖКА ДЛЯ РЕАЛИЗАЦИИ МЕТОДА КОМПЛЕКСНЫХ ДЕЙСТВИЙ С МАТЕРИАЛАМИ, СПОСОБ ЕЕ ИЗГОТОВЛЕНИЯ, СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ МАТЕРИАЛОВ НА ПОДЛОЖКЕ И УСТРОЙСТВА ДЛЯ РАБОТЫ С НЕЙ
SU 86874 A1, 01.01.1950. US 5981400 A, 09.11.1999. SU 1725107 A2, 07.04.1992. SU 1155897 A1, 15.05.1985. US 6406795 B1, 18.06.2002. WO 0206828 A2, 24.01.2002.
Имя заявителя:
Гиваргизов Михаил Евгеньевич (RU)
Изобретатели:
Гиваргизов Михаил Евгеньевич (RU)
Патентообладатели:
Гиваргизов Михаил Евгеньевич (RU)
Реферат
Настоящее изобретение относится к инструментарию для научных и производственно-технологических задач и, в частности, проведению работ по диагностике материалов различной природы, представленных в виде тонких пленок. Техническим результатом заявленного изобретения является создание комплексного метода диагностики материалов (в особенности, тонких пленок), основанного на использовании заявленной универсальной подложки, охватывающего практически весь спектр существующих в мире инструментов. Предлагается конструкция подложки для образцов, способ ее изготовления, прибор на ее основе. Технический результат достигается с помощью подложки для реализации комплексных действий с материалами образцов, которая содержит массивную часть - держатель, предметный столик для фрагментов материалов образцов, и, по крайней мере, одно средство для действия с фрагментами материалов образцов. При этом предметный столик представляет собой тонкую пленку, по крайней мере, часть которой представлена мембраной. Мембрана состоит, по крайней мере, из одного материала подложки, обе поверхности которой свободны. При этом крепление подложки к массивному держателю осуществляется, по крайней мере, вдоль части ее периметра. 5 н. и 18 з.п. ф-лы, 21 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента