JP 2008241415 А, 09.10.2008. WO 2007013370 A1, 01.02.2007. US 2003001091 A1, 02.01.2003. RU 2313776 C1, 27.12.2007. RU 2356110 C2, 27.08.2006.
Имя заявителя:
Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Московский физико-технический институт (государственный университет)" (МФТИ) (RU)
Изобретатели:
Батурин Андрей Сергеевич (RU) Чуприк Анастасия Александровна (RU)
Патентообладатели:
Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Московский физико-технический институт (государственный университет)" (МФТИ) (RU)
Реферат
Изобретение относится к способам изготовления и восстановления зондов атомно-силового микроскопа. Данный способ реализуется следующим образом. Зонд сближают с поверхностью проводящего вещества в жидком состоянии, хорошо смачивающего материал зонда и проводящего покрытия, нанесенного на проводящую подложку. Между подложкой и зондом прикладывают электрическое напряжение, которое изменяют таким образом, чтобы достоверно зарегистрировать значения электрического тока, которые соответствуют более чем трем значениям приложенного электрического напряжения. Процедуру погружения прекращают в тот момент, когда зарегистрированный ненулевой электрический ток в пределах экспериментальной ошибки станет пропорционален приложенному напряжению, после чего зонд извлекают из проводящего вещества в жидком состоянии. В результате этого кончик зонда оказывается покрыт проводящим веществом в жидком состоянии. Высыхание образовавшегося слоя приведет к формированию гладкой поверхности. Технический результат - получение стабильного электрического контакта зонда с исследуемой поверхностью и тем самым обеспечение высокой стабильности и повторяемости электрических измерений. 3 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента