BENDA R.K., CENDAN J.C. Should decisions on internal mammary lymph node irradiation be based on current lymphoscintigraphy techniques for sentinel lymph node identification? Cancer. 2004 Feb 1; 100(3): 518-23. RU 2212035 C2, 10.09.2003. RU 2286818 C2, 10.11.2006. ГЛАДИЛИНА И.А. и др. Роль лучевой терапии в программе комплексного лечения больных раком молочной железы. Маммология, 2005, 1.
Имя заявителя:
Федеральное государственное учреждение "Научно-исследовательский институт онкологии имени Н.Н. Петрова по высокотехнологичной медицинской помощи" (RU)
Изобретатели:
Новиков Сергей Николаевич (RU) Канаев Сергей Васильевич (RU) Семиглазов Владимир Федорович (RU) Гиршович Михаил Маркович (RU) Голованов Сергей Георгиевич (RU)
Патентообладатели:
Федеральное государственное учреждение "Научно-исследовательский институт онкологии имени Н.Н. Петрова по высокотехнологичной медицинской помощи" (RU)
Реферат
Изобретение относится к области медицины, в частности к радионуклидной диагностике и лучевой терапии, и может найти применение при формировании радиационных полей и определении величины суммарной очаговой дозы для облучения парастернальных лимфоузлов. После внутриопухолевого введения радиоколлоидов, меченых 99 mTc, производится определение индивидуальной топографии лимфооттока от опухоли. В случае локализации сигнальных лимфоузлов в парастернальной области топометрическая подготовка к их облучению выполняется с использованием сцинтиграфических данных. Величина суммарной дозы облучения определяется после радионуклидной визуализации с туморотропным препаратом 99 mTc-Технетрил и составляет 45 Гр при отсутствии очагов патологической гиперфиксации препарата в парастернальных лимфоузлах или 60 Гр - 70 Гр - при наличии гиперфиксации 99 mTc-Технетрила. Способ впервые позволяет решить ряд важных задач радиационной онкологии - выделить группу больных раком молочной железы, нуждающихся в облучении парастернальных лимфоузлов, осуществить топометрическую подготовку к их облучению и определить необходимую величину суммарной дозы облучения. 3 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента