SU 1755905 A1, 23.08.1992. КОРОЛЕВ Л.В., ТАРШИС М.Ю. Метод оценки качества смешения сыпучих материалов по распределению частиц в плоском сечении рабочего объема. "Известия ВУЗов. Химия и химическая технология", 2002, том 45, вып.1, с.98-100. SU 1562016 A1, 07.05.1990. SU 1575102 A1, 30.06.1990. US 2005202571 A1, 15.09.2005. RU 2022253 C1, 30.10.1994. RU 2310186 C2, 10.11.2007.
Имя заявителя:
Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Ярославский государственный технический университет" (RU)
Изобретатели:
Лебедев Антон Евгеньевич (RU) Зайцев Анатолий Иванович (RU) Капранова Анна Борисовна (RU) Павлов Александр Анатольевич (RU) Сугак Александр Викторович (RU)
Патентообладатели:
Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Ярославский государственный технический университет" (RU)
Реферат
Изобретение относится к способу определения коэффициента неоднородности смеси трудноразделимых сыпучих материалов. Способ включает определение числа проб, минимально допустимого веса пробы, отбор проб смеси, нахождение концентрации ключевого компонента в пробе, вычисление коэффициента неоднородности смеси. При нахождении концентрации ключевого компонента, содержимое пробы вначале распределяют равномерным слоем на гладкой поверхности, фотографируют или сканируют. Затем проводят компьютерную обработку изображения, представляют его в виде массива чисел, каждый элемент которого выражен пикселем, значение которого соответствует цвету компонента. Далее выбирают диапазон значений пикселей и присваивают все пиксели, находящиеся в этом диапазоне, ключевому компоненту, а другому - все остальные пиксели, производят подсчет пикселей, соответствующих каждому компоненту, и определяют концентрацию ключевого компонента, по которой вычисляют коэффициент неоднородности смеси. Достигаемый при этом технический результат заключается в создании способа определения коэффициента неоднородности смеси для трудноразделимых компонентов с минимальными затратами времени.
Поиск патентов
Получить полное описание патента