

	Главная Патентный отдел Технологии Справочник ГРНТИ Прием Наши координаты Обратная связь

Поиск патентов

Оформить заказ и задать интересующие Вас вопросы Вы можете напрямую c 6-00 до 14-30 по московскому времени кроме сб, вс. whatsapp 8-950-950-9888

Патентный отдел

На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента

Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»

Вернуться к списку

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОГО ПОКРЫТИЯ

Номер публикации патента: 2369862

Вид документа:	C1
Страна публикации:	RU
Рег. номер заявки:	2008122454/28

Получить полное описание патента

Редакция МПК:	6
Основные коды МПК:	G01N022/00
Аналоги изобретения:	RU 2258214 C1, 10.08.2005. RU 2193184 C2, 20.11.2002. JP 2002365049 A, 18.12.2002. JP 5196446 A, 08.08.1993.

Имя заявителя:	Институт проблем управления им. В.А. Трапезникова РАН (RU)
Изобретатели:	Ахобадзе Гурам Николаевич (RU)
Патентообладатели:	Институт проблем управления им. В.А. Трапезникова РАН (RU)

Реферат

Способ определения толщины диэлектрического покрытия, нанесенного на металлическую подложку, включает возбуждение в диэлектрическом покрытии поверхностных электромагнитных волн и прием этих волн при их распространении по диэлектрическому покрытию. Согласно изобретению в диэлектрическом покрытии при его возбуждении допускают существование поверхностной электромагнитной волны типа НЕ₁₁ и в процессе приема этого типа волны при ее распространении по диэлектрическому покрытию фиксируют затухание указанного типа волны и при достижении полного затухания определяют толщину покрытия по предложенной расчетной формуле. Изобретение обеспечивает упрощение процедуры измерения толщины диэлектрического покрытия. 1 ил.

Вернуться к списку

Дирекция сайта "Промышленная Сибирь"
Россия, г.Омск, ул.Учебная, 199-Б, к.408А
Сайт открыт 01.11.2000
© 2000-2018 Промышленная Сибирь

Разработка дизайна сайта:
Дизайн-студия "RayStudio"