WO 0006999 A1, 10.02.2000. US 5839424 A, 24.11.1998. ЕР 0245923 A2, 19.11.1987. JP 11002614 A, 06.01.1999. US 2002005952 A1, 17.01.2002. SU 1133519 A1, 07.01.1985. SU 1226210 A1, 23.04.1986. SU 894502 A1, 30.12.1981.
Использование: для промеров, ориентирования и фиксации минимум одного монокристалла. Сущность: заключается в том, что монокристалл позиционируют для определения ориентации кристаллической решетки с возможностью юстировки на вращающемся столе, и углы нормалей плоскостей кристаллической решетки к оси вращающегося стола устанавливают во время минимум одного оборота вращающегося стола при помощи рентгеноскопии, после чего посредством установленных углов осуществляют ориентирование монокристалла относительно оси вращающегося стола, служащей как основное направление, прежде чем производится фиксация монокристалла и крепление на ориентированном в основном направлении носителе. Технический результат: обеспечение повышенной точности при определении кристаллографической ориентации и ориентированной фиксации независимо от внешней геометрии монокристаллов. 2 н. и 13 з.п. ф-лы, 5 ил.
Поиск патентов
Получить полное описание патента