|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| ЗОНД ДЛЯ АТОМНОГО СИЛОВОГО МИКРОСКОПА |  |
Номер публикации патента: 2356110 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G12B021/08 B82B003/00 | | Аналоги изобретения: | US 6349591 B1, 26.02.2002. WO 02/063368 A1, 15.08.2002. RU 2109369 C1, 20.04.1998. |
| Имя заявителя: | ЮНИВЕРСИТИ ОФ БРИСТОЛЬ (GB) | | Изобретатели: | ХАМФРИС Эндрю Дэвид Лейвер (GB)
ХОББС Джейми Кейн (GB)
МАЙЛЗ Мервин Джон (GB) | | Патентообладатели: | ЮНИВЕРСИТИ ОФ БРИСТОЛЬ (GB) |
Реферат | |
Изобретение относится к области атомных силовых микроскопов и зондам, применяемым в указанных микроскопах. Зонд для использования в атомном силовом микроскопе или для нанолитографии содержит силоизмерительный элемент, соединенный с наконечником зонда с радиусом наконечника 100 нм или менее. Силоизмерительный элемент имеет низкий коэффициент добротности для, по меньшей мере, одной моды колебаний силоизмерительного элемента, при этом указанный зонд выполнен таким образом, что при воздействии на зон
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента