|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПРОФИЛЯ ПУЧКА НА УСКОРИТЕЛЯХ |  |
Номер публикации патента: 2341919 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | H05H007/00 | | Аналоги изобретения: | K.A.BROWN, I.H.CHIANG, D.GASSNER et al. A scanning Target Profile Monitor, Proc. of 1997, с.2149-2151. SU 1292469 A1, 15.12.1992. SU 1685172 A1, 23.03.1993. SU 931018 A1, 07.08.1983. US 2004199150 A1, 07.10.2004. WO 03101538 A1, 11.12.2003. JP 1115371 A, 08.05.1989. |
| Имя заявителя: | Федеральное Государственное Унитарное предприятие Государственный научный центр Российской Федерации Институт физики высоких энергий (RU) | | Изобретатели: | Афонин Александр Гаврилович (RU)
Баранов Владимир Тимофеевич (RU) | | Патентообладатели: | Федеральное Государственное Унитарное предприятие Государственный научный центр Российской Федерации Институт физики высоких энергий (RU) |
Реферат | |
Изобретение относится к ускорительной технике и предназначено для измерения профиля пучка в ускорителях элементарных частиц. В способе измерения профиля пучка ускорителя используется система отклонения пучка, тонкая измерительная мишень и детектор вторичного излучения. Перемещение пучка во времени через неподвижную мишень обеспечивается с помощью нарастающего во времени магнитного поля.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента