На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
СПОСОБ ИНТЕРФЕРЕНЦИОННОГО ИЗМЕРЕНИЯ ФОРМЫ ПОВЕРХНОСТИ ОПТИЧЕСКИХ ДЕТАЛЕЙ | |
Номер публикации патента: 2305254 | |
Редакция МПК: | 7 | Основные коды МПК: | G01B009/02 G01B011/24 | Аналоги изобретения: | SU 165904 A, 23.11.1964. SU 842400 A, 30.06.1981. SU 1656320 A1, 15.06.1991. ЕР 1568963, 31.08.2005. |
Имя заявителя: | СИБИРСКАЯ ГОСУДАРСТВЕННАЯ ГЕОДЕЗИЧЕСКАЯ АКАДЕМИЯ (RU) | Изобретатели: | Носков Михаил Федорович (RU) | Патентообладатели: | СИБИРСКАЯ ГОСУДАРСТВЕННАЯ ГЕОДЕЗИЧЕСКАЯ АКАДЕМИЯ (RU) |
Реферат | |
Изобретение относится к области интерференционных измерений, а конкретнее к способам повышения точности измерений путем многократного переотражения зондирующего излучения между эталонной и исследуемой поверхностью. Поставленная задача достигается тем, что при предварительной настройке интерферометра измеряют интенсивность максимума Imax и минимума Imin интерференционных полос для каждого порядка интерференции, затем рассчитывают видность Vn интерференционной картины для каждого n-го прохода по фо
|