Промышленная Сибирь Ярмарка Сибири Промышленность СФО Электронные торги НОУ-ХАУ Электронные магазины Карта сайта
 
Ника
Ника
 

Поиск патентов

Как искать?
Реферат
Название
Публикация
Регистрационный номер
Имя заявителя
Имя изобретателя
Имя патентообладателя

    





Оформить заказ и задать интересующие Вас вопросы Вы можете напрямую c 6-00 до 14-30 по московскому времени кроме сб, вс. whatsapp 8-950-950-9888

На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента

Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»


СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ СПЕКТРАЛЬНЫХ ЛИНИЙ ПРИ СПЕКТРАЛЬНОМ АНАЛИЗЕ

Номер публикации патента: 2291406

Вид документа: C1 
Страна публикации: RU 
Рег. номер заявки: 2005109876/28 
  Сделать заказПолучить полное описание патента

Редакция МПК: 
Основные коды МПК: G01J003/30   G01N021/00    
Аналоги изобретения: ЩЕЛПАКОВА И.Р. И ДР. Аналитические возможности многоканального анализатора эмиссионных спектров (МАЭС) в спектральном анализе. Аналитика и контроль. 1988, № 1, с.33-40. RU 2011966 С1, 30.04.1994. RU 2053500 C1, 27.01.1996. RU 93050946 А, 20.08.1996. 

Имя заявителя: ГОУ ВПО Омский государственный университет путей сообщения (RU) 
Изобретатели: Кузнецов Андрей Альбертович (RU)
Пимшин Дмитрий Александрович (RU)
Одинец Александр Ильич (RU) 
Патентообладатели: ГОУ ВПО Омский государственный университет путей сообщения (RU) 

Реферат


Изобретение относится к измерительной технике. В способе спектры эталона и пробы представляют с помощью базисных функций в одних и тех же точках дискретизации и представляют параметры спектральных линий путем корреляционного анализа этих функций, причем в качестве базисных функций используют вейвлет - функцию.


Дирекция сайта "Промышленная Сибирь"
Россия, г.Омск, ул.Учебная, 199-Б, к.408А
Сайт открыт 01.11.2000
© 2000-2018 Промышленная Сибирь
Разработка дизайна сайта:
Дизайн-студия "RayStudio"