|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| ЛАЗЕРНЫЙ СКАНИРУЮЩИЙ МИКРОСКОП |  |
Номер публикации патента: 2285279 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G02B021/00 | | Аналоги изобретения: | US 2003/0058442 A1, 27.03.2003. US 5032720 A, 16.07.1991. SU 1074239 A, 30.12.1984. US 2003/023710 A1, 18.12.2003. JP 2004151491 A, 27.05.2004. US 5127730 A, 07.07.1992. |
| Имя заявителя: | Общество с ограниченной ответственностью Научно-технический центр "ЭконЦНИИМаш" (ООО НТЦ "ЭконЦНИИМаш") (RU) | | Изобретатели: | Валейко Михаил Валентинович (RU)
Шатров Яков Тимофеевич (RU)
Чалкин Станислав Филиппович (RU) | | Патентообладатели: | Общество с ограниченной ответственностью Научно-технический центр "ЭконЦНИИМаш" (ООО НТЦ "ЭконЦНИИМаш") (RU) |
Реферат | |
Изобретение относится к оптическим устройствам для измерения оптической разности фаз методами интерферометрии, измерения поляризации света, а также для управления интенсивностью, фазой и поляризацией излучения. Микроскоп содержит источник лазерного излучения, на пути следования луча которого последовательно установлены светоделительный элемент, сканирующая система с двумя зеркальными дефлекторами и объектив, а на пути следования луча, отраженного от исследуемого образца и светоделительного элемен
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента