|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СКАНИРУЮЩИЙ ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ОТКЛОНЕНИЯ ФОРМЫ ОПТИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ |  |
Номер публикации патента: 2264595 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01B009/02 G01B011/24 | | Аналоги изобретения: | Руководство по эксплуатации Ю-30.60.050 РЭ. Интерферометр ИКД-110.О.М. Модель Mark III, 23.01.1995. SU 1065683 A1, 07.01.1984. WO 0204888 A, 17.01.2002. |
| Имя заявителя: | Открытое акционерное общество "ЛОМО" (RU) | | Изобретатели: | Скворцов Ю.С. (RU)
Трегуб В.П. (RU) | | Патентообладатели: | Открытое акционерное общество "ЛОМО" (RU) |
Реферат | |
Сканирующий интерферометр для измерения отклонения формы оптических поверхностей содержит источник когерентного излучения, первый фильтр-конденсор, состоящий из конденсорной линзы, первый и второй светоделительные элементы, объектив, интерферометр, состоящий из эталонной и контролируемой поверхностей, устройство для изменения оптической длины хода луча, первую проекционную систему, регистрирующий блок и систему обработки интерференционной картины, систему проецирования автоколлимационных изображе
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента