|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ И УСТАНОВКА ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ОСТАТОЧНЫХ НАПРЯЖЕНИЙ В МОНОКРИСТАЛЛИЧЕСКИХ МАТЕРИАЛАХ ПОЛЯРИЗАЦИОННО - ОПТИЧЕСКИМ МЕТОДОМ |  |
Номер публикации патента: 2240501 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01B009/00 | | Аналоги изобретения: | НАРАСИМХАМУРТИ Т. Фотоупругие и электрооптические свойства кристаллов. - М.: Мир, 1984, с.622. SU 1762249 A1, 15.09.1992. RU 2047170 С1, 27.10.1995. DE 4419525 A, 07.12.1995. |
| Имя заявителя: | Открытое акционерное общество "Раменское приборостроительное конструкторское бюро" (RU),Институт прикладной математики им. М.В. Келдыша РАН (RU),Общество с ограниченной ответственностью "Растр-Технология" (RU) | | Изобретатели: | Гребенников В.А. (RU)
Кульбацкий Е.Б. (RU)
Меженный М.В. (RU)
Попов Ю.П. (RU)
Джанджгава Г.И. (RU)
Ефанов А.А. (RU) | | Патентообладатели: | Открытое акционерное общество "Раменское приборостроительное конструкторское бюро" (RU)
Институт прикладной математики им. М.В. Келдыша РАН (RU)
Общество с ограниченной ответственностью "Растр-Технология" (RU) |
Реферат | |
Способ определения остаточных напряжений в монокристаллических материалах поляризационно-оптическим методом по разности фаз монохроматического светового луча, при котором анализируемый монокристалл сканируют относительно луча света, а для синхронного определения момента компенсации разности фаз осуществляют модулирование и масштабирование электрического сигнала с последующей электронной и математической обработкой с использованием блока электронного управления и программных средств.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента