На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
СПОСОБ ИНТЕРФЕРЕНЦИОННОГО ИЗМЕРЕНИЯ ФОРМЫ ПОВЕРХНОСТИ ОПТИЧЕСКИХ ДЕТАЛЕЙ | |
Номер публикации патента: 2224982 | |
Редакция МПК: | 7 | Основные коды МПК: | G01B011/24 | Аналоги изобретения: | SU 1651096 A1, 23.05.1991. DE 19703741 A, 06.08.1998. FR 2658601 A1, 23.08.1991. US 4525858 A, 25.06.1985. |
Имя заявителя: | Сибирская государственная геодезическая академия | Изобретатели: | Носков М.Ф. | Патентообладатели: | Сибирская государственная геодезическая академия |
Реферат | |
Способ интерференционного измерения формы поверхности оптических деталей включает регистрацию интерференционной картины фотографическим путем на прозрачном носителе, освещение зарегистрированной интерферограммы в интервале углов от до +, где - угол диффузного рассеивания света интерферограммой; - передний апертурный угол анализирующей оптической системы, и последующий анализ светового изображения.
|