На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ОТКЛОНЕНИЙ ОТ КРУГЛОСТИ | |
Номер публикации патента: 2217694 | |
Редакция МПК: | 7 | Основные коды МПК: | G01B011/24 | Аналоги изобретения: | SU 1044969 А1, 30.09.1983. DE 19854956 А, 05.06.2000. DE 3432583 A, 13.03.1986. DE 19709050 А, 22.01.1998. |
Имя заявителя: | Комсомольский-на-Амуре государственный технический университет | Изобретатели: | Новиков Б.А. | Патентообладатели: | Комсомольский-на-Амуре государственный технический университет |
Реферат | |
Изобретение относится к измерительной технике. Способ заключается в создании оптической базы, в качестве которой используется оптический цилиндр, одна из направляющих окружностей которого является контрольной (5), а другую (3) образуют вращающимся на штанге (1) относительно контролируемого изделия оптическим визиром (2).
|