|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЙ СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ГЕОМЕТРИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК ОБЪЕКТА И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ |  |
Номер публикации патента: 2196298 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01B009/02 G01B011/02 | | Аналоги изобретения: | US 5706085 А, 06.01.1998. APPLIED OPTICS, 1973, v.12, № 9, р. 2071-2074. WO 98/25103 A1, 11.06.1998. ШЕСТОПАЛОВ Ю.Н. Фотоэлектрические интерферометры для научных исследований. - М.: ЦНИИТЭИ приборостроения, 1978, с. 49. RU 2060475 C1, 20.05.1996. |
| Имя заявителя: | Санкт-Петербургский государственный институт точной механики и оптики (технический университет) | | Изобретатели: | Панков Э.Д.
Гуров И.П.
Джабиев Адалет Нуррадин оглы
Кириенко А.А. | | Патентообладатели: | Санкт-Петербургский государственный институт точной механики и оптики (технический университет) |
Реферат | |
Способ измерения геометрических характеристик объекта заключается в том, что интерферометр, в качестве одного из зеркал которого используется поверхность контролируемого объекта, освещают пучком монохроматических излучений на двух длинах волн, осуществляют фотоэлектрическое преобразование яркости суммы двух интерференционных картин в электрический сигнал.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента