На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента

Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»

Вернуться к списку

СПОСОБ ОБНАРУЖЕНИЯ ДЕФЕКТОВ ПОВЕРХНОСТИ

Номер публикации патента: 2165612

Вид документа:  C1  Страна публикации:  RU  Рег. номер заявки:  2000110088/28		Получить полное описание патента

Реферат

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для обнаружения на поверхности контролируемых объектов (КО) дефектов различного происхождения. Сущность: световое излучение направляют на поверхность перемещаемого КО. Зону облучения КО формируют путем пересечения световых потоков направленного излучения с площадью нормальной проекции каждого из них, большей площади максимальной проекции КО, от не менее трех идентичных источников, расположенных в пространстве равноудаленно друг от друга и от центра пересечения световых потоков. КО перемещают равномерно и прямолинейно через зону облучения, регистрируют рассеянные КО световые потоки фотоприемниками с площадью рабочей поверхности, равной или большей площади нормальной проекции светового потока. Каждый из фотоприемников расположен равноудаленно от соответствующего источника в ходе светового потока. Зарегистрированные световые потоки преобразуют в дискретные электрические сигналы (например, квантованием по уровню), измеряют величины оценок корреляционных моментов (ВОКМ) между случайными значениями сигналов на каждой паре фотоприемников, получая, таким образом, ряд ВОКМ с количеством членов ряда, определяемым числом возможных сочетаний пар фотоприемников. Ранжируя его по возрастанию или по убыванию, получают непрерывно возрастающий или непрерывно убывающий ряд ВОКМ. Технический результат: создание способа обнаружения дефектов поверхности КО в потоке без их дополнительной ориентации, с высокой достоверностью со значительным снижением времени дефектоскопии. 2 ил., 1 табл.

Вернуться к списку