|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| ОПТИЧЕСКИЙ СПОСОБ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА МОНОКРИСТАЛЛИЧЕСКИХ ФЕРРИТОВ - ГРАНАТОВ |  |
Номер публикации патента: 2157576 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | H01L021/66 | | Аналоги изобретения: | RU 2093922 C1 20.10.1997. RU 20955885 C1 10.11.1997. GB 2244327 A 27.11.1991. GB 2302614 A 22.01.1997. |
| Имя заявителя: | Московский государственный институт стали и сплавов (Технологический Университет) | | Изобретатели: | Костишин В.Г.
Медведь В.В.
Летюк Л.М.
Шипко М.Н. | | Патентообладатели: | Московский государственный институт стали и сплавов (Технологический Университет) |
Реферат | |
Изобретение относится к физике твердого тела, в частности к оптической спектрофотометрии, и может быть использовано при отборе монокристаллов и эпитаксиальных пленок ферритов-гранатов. Сущность изобретения заключается в том, что в диапазоне длин волн = (0,45 - 0,65) мкм регистрируют спектры отражения образцов, а о их непригодности для производства приборов СВЧ-электроники и магнитооптики, требующих узкой ширины линии ФМР и минимального оптического поглощения, судят по наличию в спектрах отражения
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента