|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ БЕСКОНТАКТНОГО ИЗМЕРЕНИЯ ТЕМПЕРАТУРЫ |  |
Номер публикации патента: 2149366 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01J005/58 H01L021/66 | | Аналоги изобретения: | SU 694774 A, 30.10.1979. SU 556349 A, 06.05.1977. FR 2508637 A1, 31.12.1982. DE 4110535 A1, 05.12.1991. ГОРДОВ и др. Основы температурных измерений. - М.: Наука, 1992, с. 232 - 243. |
| Имя заявителя: | Институт физики полупроводников СО РАН | | Изобретатели: | Дворецкий С.А.
Дулин С.А.
Михайлов Н.Н.
Рыхлицкий С.В.
Сидоров Ю.Г. | | Патентообладатели: | Институт физики полупроводников СО РАН
Дворецкий Сергей Алексеевич
Дулин Сергей Афанасьевич
Михайлов Николай Николаевич
Рыхлицкий Сергей Владимирович
Сидоров Юрий Георгиевич |
Реферат | |
Способ может быть использован для определения температуры оптически гладких поверхностей различных нагретых объектов. В способе бесконтактного измерения температуры, включающем прием теплового излучения объекта, спектральную фильтрацию, его модуляцию, детектирование, усиление на частоте модуляции, выделение переменной составляющей, излучение объекта регистрируют под углом к нормали к поверхности излучения, равным главному углу падения, причем модулируют путем последовательной коммутации на детектор ортогонально поляризованных компонент излучения объекта, а в детектируемом сигнале выделяют составляющую, пропорциональную разности ортогонально поляризованных компонент излучения, по которой определяют температуру объекта. Технический результат: способ позволил упростить юстировку и исключить влияние нагретых элементов конструкции вакуумной камеры. 1 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента