|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ОПТИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ПРОВОДЯЩИХ ОБРАЗЦОВ |  |
Номер публикации патента: 2148814 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01N021/43 | | Аналоги изобретения: | МОШКУНОВ С.И. и др. О точности определения параметров тонких пленок методом возбуждения поверхностных плазмотронов. В: Известия РАН (сер. Физическая), 1992, т.56, N 4, с.212-215. RU 2096762 C1, 20.11.1997. US 5125740 A, 30.06.1992. US 5141311 A, 05.08.1992. |
| Имя заявителя: | Российский университет дружбы народов | | Изобретатели: | Никитин А.К. | | Патентообладатели: | Российский университет дружбы народов |
Реферат | |
Изобретение относится к технике оптико-физических измерений, а именно к способам определения оптических параметров (показателя преломления, показателя поглощения и толщины) проводящих образцов по значениям характеристик поверхностных электромагнитных волн (ПЭВ) и может быть использовано в металлооптике, при производстве металлодиэлектрических волноведущих структур, металлических зеркал и подложек, а также в других областях науки и техники. Сущность изобретения заключается в том, что при использовании излучения с ненулевыми р- и s-составляющими поля для возбуждения ПЭВ происходит изменение интенсивности составляющих поля: у р-составляющей она уменьшается, а у s-составляющей остается неизменной, что приводит к более выраженному резонансному характеру зависимости угла поворота плоскости поляризации от эффективности возбуждения ПЭВ η. Это позволяет более точно определять угол падения излучения, соответствующий η=100% и, таким образом, существенно повысить точность определения параметров образца. 2 с.п. ф-лы, 2 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента