На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ФОРМЫ И ПРОСТРАНСТВЕННОГО ПОЛОЖЕНИЯ ПОВЕРХНОСТИ ОБЪЕКТА | |
Номер публикации патента: 2148793 | |
Редакция МПК: | 7 | Основные коды МПК: | G01B011/24 | Аналоги изобретения: | US 5612786 A, 18.03.97. WO 97/36144 A1, 02.10.97. EP 0182469 A1, 28.05.86. SU 1803726 A1, 23.03.93. |
Имя заявителя: | Филиппов Евгений Иванович | Изобретатели: | Филиппов Е.И. Нейланд А.Б. Бойко В.В. Бабичев Г.С. Сивохин А.В. | Патентообладатели: | Филиппов Евгений Иванович Нейланд Анатолий Борисович Бойко Виталий Васильевич Бабичев Георгий Софронович Сивохин Алексей Васильевич |
Реферат | |
Изобретение относится к бесконтактным оптическим измерениям и может быть применено в робототехнике, машиностроении, медицине, архитектуре. На поверхность проецируют набор полос с синусоидальным распределением интенсивности, сдвигая его несколько раз, и одно дополнительное распределение интенсивности освещенности, регистрируют соответствующие изображения поверхности, из которых определяют полные фазы синусоидального распределения для каждой точки поверхности, независимо, с использованием данных предварительной калибровки находят абсолютные координаты точек поверхности. Дополнительное распределение может быть задано в форме ступенчатой функции с шириной ступеньки, равной расстоянию между полосами, или в форме монотонной функции или любой другой форме, позволяющей для каждой точки поверхности определить номер полосы из набора. Изобретение позволяет расширить диапазон измеряемых объектов. Изобретение позволяет измерять сложные формы поверхностей, имеющие резкие края, отверстия и разрывы. 6 з.п.ф-лы. 3 ил.
|