|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ КВАЗИПЕРИОДА ДИФРАКЦИОННОГО РАСПРЕДЕЛЕНИЯ ИЗЛУЧЕНИЯ ОТ УЗКОЙ ЩЕЛИ |  |
Номер публикации патента: 2145054 |  |
| Редакция МПК: | 7 | | Основные коды МПК: | G01B009/027 G01B011/14 | | Аналоги изобретения: | Okamoto T., Kawata S., Minami S. Optikal method for resolution enhancement in photodiode array Fourier transform spectroscopy. Applied Optics. Vol. 24, N 23, p. 4221 - 4225. Евсеенко Н.И., Козачок А.Г., Солодкий Ю.Н. Анализ дифракционных способов измерения линейных размеров. Метрология, 1984, N 2, с. 17 - 23. Суранов А.Я. Измерение квазипериода колебаний дифракционного распределения от узкой щели с помощью многоэлементного фотоприемника/Докл. 2-ой Международной конференции "Датчик-956"". Барнаул, 1995, с. 117-119. 4. US 5424828 А, 13.06.95. |
| Имя заявителя: | Алтайский государственный университет | | Изобретатели: | Суранов А.Я. | | Патентообладатели: | Алтайский государственный университет |
Реферат | |
Изобретение относится к оптико-электронному приборостроению и может использоваться в скоростных дифрактометрах. Сущность изобретения заключается в регистрации центральной части дифракционного распределения от узкой щели с помощью многоэлементного фотоприемника (МЭФ), квантовании и расчете с помощью дискретного преобразования Фурье отсчетов сигнала МЭФ амплитудного спектра значимых гармоник, амплитуда которых превышает заданный порог, нормированный к амплитуде первой гармоники, расчете коэффициентов линейной функции, аппроксимирующей значимые гармоники амплитудного спектра, расчете граничной частоты как частного от деления коэффициентов аппроксимирующей функции и расчете квазипериода как величины, обратной граничной частоте. С помощью данного способа обеспечивается повышение быстродействия. 2 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента