|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ РЕНТГЕНОСТРУКТУРНОГО АНАЛИЗА |  |
Номер публикации патента: 2142623 |  |
| Редакция МПК: | 6 | | Основные коды МПК: | G01N023/207 G01N023/20 | | Аналоги изобретения: | SLAVOV V.I. ET ALL. Ynt. Conf. Of Texture and Anisotropy of Polycrystals. Abstract.s Clang thal, Germany. September, 22-25, 1977, p. 116. SU 1004832 А, 15.03.83. SU 12231005 А, 07.04.86. US 4809312 А, 28.02.89. GB 1512442 А, 01.06.78. Рыбин В.В. и др. Прецизионное определение параметров разориентировки зерен рентгенодифрактометрическим методом. - Заводская лаборатория, N 7, 1980, с. 600-604. |
| Имя заявителя: | Открытое акционерное общество "Северсталь" | | Изобретатели: | Славов В.И.
Наумова О.М.
Яковлева Т.П. | | Патентообладатели: | Открытое акционерное общество "Северсталь" |
Реферат | |
Использование: при рентгеноструктурном контроле кристаллогеометрических параметров большеугловых границ зерен, описываемых тетрагональными решетками совпадающих узлов (РСУ), в поликристаллических материалах с любым размером зерна для интегрального определения текстуры этих границ и повышения точности определения ориентаций индивидуальных пар зерен в металлопрокате массового производства с любым размером зерна. Сущность изобретения: текстурную приставку дифрактометра разворачивают на углы &thetas; и α, исходя из расчета фантомной Kα-дифракции (hkl) РСУ, получают дифракционную картину в виде β-профиля в системе внешних осей образца, но рассчитывают в системе осей гониометра азимутальные углы максимумов интенсивности лауэ-спектра от реперов - параллельных в парах кристаллитов плоскостей (HKL)1 и (HKL)2 с одинаковыми кратными межплоскостными расстояниями, а точные ориентации зерен, образующих спецграницы, вычисляют из ориентационных соотношений. 2 ил., 1 табл.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента