|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ОБНАРУЖЕНИЯ ДЕФЕКТОВ ПОВЕРХНОСТИ |  |
Номер публикации патента: 2142622 |  |
| Редакция МПК: | 6 | | Основные коды МПК: | G01N021/88 | | Аналоги изобретения: | SU 1495693 A1, 23.07.89. SU 1548725 A1, 07.03.90. SU 1702262 A1, 30.12.91. EP 0580909 A2, 02.02.94. US 4364663 A, 12.12.82. |
| Имя заявителя: | Тульский государственный университет | | Изобретатели: | Сорокин П.А.
Будкина Е.Н.
Колясников А.А.
Селиверстов Г.В. | | Патентообладатели: | Тульский государственный университет |
Реферат | |
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для обнаружения на поверхности деталей дефектов различного происхождения: механических, цветности, посторонних включений в структуру материала детали. Для обнаружения дефектов поверхности деталей световой поток направляют на поверхность контролируемой детали, дискретно регистрируют и преобразуют в электрические сигналы зеркально и диффузно отраженные световые потоки, в точках поверхности, интервал между которыми не превышает среднего расстояния между гребешками микронеровностей для данного класса деталей, определяют выборки регистрируемых световых потоков объема n, предварительно определяемого для бездефектной поверхности, причем для каждой выборки объема n измеряют оценки дисперсий зеркальной и диффузной составляющих, вычисляют их произведение и по его величине судят о наличии или отсутствии дефектов на поверхности детали. Техническим результатом является повышения надежности обнаружения дефектов путем применения параметра, характеризующего дефектность и равного произведению оценок дисперсий зеркальной и диффузной составляющих. 1 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента