|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ НЕПРЕРЫВНОГО ОПРЕДЕЛЕНИЯ ГЕОМЕТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ЗАЗОРА МЕЖДУ ВАЛКАМИ УСТРОЙСТВА ГОРЯЧЕГО ФОРМОВАНИЯ ТОНКИХ МЕТАЛЛИЧЕСКИХ ИЗДЕЛИЙ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ГОРЯЧЕГО ФОРМОВАНИЯ ТОНКИХ МЕТАЛЛИЧЕСКИХ ИЗДЕЛИЙ |  |
Номер публикации патента: 2139772 |  |
| Редакция МПК: | 6 | | Основные коды МПК: | B22D011/16 B22D011/06 | | Аналоги изобретения: | US 4546814 A, 15.10.85. EP 0411962 A2, 06.02.91. DE 3624114 A1, 21.01.88. |
| Имя заявителя: | Юзинор (FR) | | Изобретатели: | Жак Барб (FR)
Люк Вендевилль (FR)
Франсуа Мазодье (FR)
Пьер Делясю (FR)
Элиас Саркис (LB)
Жан-Мари Пеллетье (FR)
Ив Грандженевр (FR) | | Патентообладатели: | Юзинор (FR)
Тиссен Шталь АГ (DE) | | Номер конвенционной заявки: | 9413102 | | Страна приоритета: | FR |
Реферат | |
Изобретение относится к металлургии и предназначено для использования на установках непрерывного литья полос или лент между валками. Технический результат - повышение надежности поддержания постоянства формы и размеров зазора между валками. Устройство согласно изобретению содержит два валка, удерживаемых подшипниками на станине, и для каждого валка средства измерения положения образующей рабочей поверхности этого валка, диаметрально противоположной самому узкому месту между валками, в трех или более точках, располагающихся соответственно в средней плоскости, перпендикулярной осям валков, и во вторичных плоскостях, параллельных упомянутой средней плоскости, и средства измерения в упомянутой средней плоскости положения образующей, сдвинутой на 90o по отношению к самому узкому месту между валками. Способ в соответствии с данным изобретением использует эти измерения для постоянного определения геометрических параметров зазора между валками с учетом возникающих эксплуатационных деформаций валков. 2 с. и 11 з.п. ф-лы, 4 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента