На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента

Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»

Вернуться к списку

СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ОТКЛОНЕНИЙ РАСПОЛОЖЕНИЯ ПЕРЕКРЕЩИВАЮЩИХСЯ ОСЕЙ ОТВЕРСТИЙ

Номер публикации патента: 2139494

Вид документа:  C1  Страна публикации:  RU  Рег. номер заявки:  98103691		Получить полное описание патента

Реферат

Объект измерения размещают на установочной плоскости. Основной центрирующий узел устанавливают в одну пару отверстий объекта измерения, а дополнительный центрирующий узел - в другую пару отверстий. Измерительный прибор базируют основными базирующими призмами, закрепленными в общей биссекторной плоскости на основной каретке со стойкой по основному центрирующему узлу, а дополнительными базирующими призмами, закрепленными в общей биссекторной плоскости на дополнительной каретке, - по дополнительному центрирующему узлу. Основные базирующие призмы с основной кареткой, содержащей основную измерительную плоскость, вращают вокруг оси основного центрирующего узла и перемещают вдоль его оси. Дополнительные базирующие призмы с дополнительной кареткой, содержащей дополнительную измерительную плоскость, вращают вокруг оси стойки и перемещают вдоль этой оси. Достигают кратчайшего расстояния между основной и дополнительной измерительными плоскостями. Измеряют отклонения расстояния между основной и дополнительной измерительными плоскостями, а также отклонение угла скрещивания между вспомогательными плоскостями, выполненными на основной и дополнительных каретках в их общих биссекторных плоскостях. Обеспечивается расширение технологических возможностей за счет измерения как расстояния, так и угла скрещивания между перекрещивающимися осями отверстий. 2 ил.

Вернуться к списку