|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ДИАГНОСТИКИ ВОСПАЛИТЕЛЬНЫХ ЗАБОЛЕВАНИЙ ШЕЙКИ МАТКИ И ВЛАГАЛИЩА |  |
Номер публикации патента: 2134535 |  |
| Редакция МПК: | 6 | | Основные коды МПК: | A61B005/04 | | Аналоги изобретения: | 1. М.С.Гончаренко, В.А.Ерещенко. Тест-система оценки физиологического состояния организма по электрокинетическим свойствам клеток буккального эпителия. Методическая разработка. - Харьков, 1992. 2. В.С.Ронин, Г.М.Старобинец, Н.А.Утевский. Руководство к практическим занятиям по методам клинических лабораторных исследований. - М.: Медицина, 1982, с.143-160. |
| Имя заявителя: | Япеев Владимир Асылгараевич | | Изобретатели: | Япеев В.А.
Соловьев А.А.
Япеев А.С. | | Патентообладатели: | Япеев Владимир Асылгараевич |
Реферат | |
Способ может быть использован в медицине, в частности в акушерстве и гинекологии. У обследуемой женщины шпателем забирают клетки шейки матки или влагалища. В дистиллированную воду добавляют молочную кислоту до рН = 4,0-4,5 (фоновый раствор), наносят его на предметное стекло, добавляют клетки исследуемого органа и воздействуют на них знакопеременным током. Исследование проводят сразу же после помещения клеток в раствор молочной кислоты, а затем спустя 10 и 20 мин. При этом температуру фонового состава на протяжении всего периода исследований поддерживают равной 36-38oС. При снижении числа клеток с биокинетикой ниже 37,2% в начале исследования и 27,7% - через 10 мин, амплитуды колебаний ядер ниже 3,0 мкм в начале исследования и ниже 2,5 мкм через 10 мин, колебаний цитолеммы ниже 2,6 мкм в начале исследования и ниже 2,0 мкм через 10 мин и при полном прекращении биокинетики клеток через 20 мин диагностируют воспалительное заболевание шейки матки или влагалища. Способ более прост и атравматичен, не требует больших затрат, средств и времени. Способ обладает высокой чувствительностью и коротким временем исследования.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента