На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
ПРИБОР ДЛЯ ФУНКЦИОНАЛЬНОЙ ДИАГНОСТИКИ | |
Номер публикации патента: 2134095 | |
Редакция МПК: | 6 | Основные коды МПК: | A61H039/00 A61B005/05 | Аналоги изобретения: | Бойцов И.В. Электропунктурная диагностика по "риодораку". - Витебск, 996, с. 128-130. Атаев Д.И. Электропунктурная рефлексотерапия. - М.: Социнованная, 1996, с. 13-20. |
Имя заявителя: | Добровольский Борис Валентинович | Изобретатели: | Добровольский Б.В. Керекеша М.Г. Новиков А.К. | Патентообладатели: | Добровольский Борис Валентинович Керекеша Михаил Георгиевич |
Реферат | |
Прибор предназначен для проведения функциональной диагностики, которая основана на измерении величины электрокожного сопротивления биологически активных точек (БАТ). Технический результат состоит в повышении достоверности диагностики. Прибор содержит активный и общий электроды, подключенные к АЦП и ЦАП. К шине данных подключены входы данных ЦАП и регистра, выходы данных АЦП, выходы кодов команд селектора команд и первые входы-выходы буферного усилителя, вторые входы-выходы которого подключены к шине управления, к которой подключены входы-выходы блока оперативной памяти, блока постоянной памяти, первые входы-выходы микроконтроллера (МК) и входы дешифратора адреса, выходы которого соединены с входами управления буферного усилителя, АЦП, ЦАП, регистра и селектора команд, входы данных которого соединены с выходами пульта оператора. Выходы селектора команд соединены с входами прерывания и сброса МК, тактовый вход и вход готовности которого соединены соответственно с выходом задающего генератора и с выходом АЦП. Индикатор БАТ и дисплей подключены к регистру. Вторые входы-выходы МК соединены с интерфейсным преобразователем для подключения к ЭВМ. Прибор позволяет использовать любую из известных диагностических методик и обеспечивает широкое варьирование циклограмм воздействия на БАТ при измерении их параметров, позволяет производить вычисления интегрированных значений сопротивлений БАТ и выбирать оптимальное время проведения замера по отношению к фронту тестирующего сигнала. 1 табл., 2 ил.
|