|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| МНОГОПАРАМЕТРИЧЕСКИЙ ДЕФЕКТОСКОП |  |
Номер публикации патента: 2123687 |  |
| Редакция МПК: | 6 | | Основные коды МПК: | G01N029/00 G01N029/04 | | Аналоги изобретения: | 1. Приборы для неразрушающего контроля материалов и изделий. Справочник/Под ред. В.В. Клюева, Т.2. -М.: Машиностроение, 1986, с. 229, рис. 43. 2. RU 94013378 A1, 10.06.96. 3. SU 1585751 A, 15.08.90. 4. SU 894554 A, 30.12.81. 5. US 5569853 A, 29.10.96. |
| Имя заявителя: | Московский государственный университет леса | | Изобретатели: | Новоселов О.Н.
Щербаков А.С.
Комаров Е.Г.
Давыдов В.Ф.
Кутюрин Ю.Г. | | Патентообладатели: | Московский государственный университет леса |
Реферат | |
Изобретение относится к ультразвуковой дефектоскопии для неразрушающего контроля качества многослойных полимерно-композиционных материалов. Повышение достоверности и оперативности неразрушающего контроля достигается путем использования дополнительных информативных признаков сигнала и автоматизации процесса измерений. Это достигается тем, что многопараметрический дефектоскоп содержит ультразвуковой преобразователь зондирующих импульсов, канал приема и обработки сигнала по амплитуде и времени запаздывания. Дополнительно содержит тракт обработки сигнала по форме, состоящий из интерфейсного блока в составе последовательно соединенных аналого-цифрового преобразователя и буфера хранения кода, оперативного запоминающего устройства, вычислителя, системы визуализации и графического отображения, а также постоянного запоминающего устройства хранения пакетов программ и эталонных сигналов и устройства ввода информации, подключенных к вычислителю. 1 табл., 4 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента