|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ПОДЛИННОСТИ ГОЛОГРАММ |  |
Номер публикации патента: 2103741 |  |
| Редакция МПК: | 6 | | Основные коды МПК: | G07D007/00 G06K019/16 | | Аналоги изобретения: | US, патент, 3894756, кл. B 42 D 15/00, 1975. US, патент, 4820006, кл. G 03 H 1/22, 1989. |
| Имя заявителя: | Акционерное общество закрытого типа Научно-производственное объединение "Криптон" | | Изобретатели: | Бондарев Л.А.
Куракин С.В.
Курилович А.В.
Одиноков С.Б.
Смык А.Ф. | | Патентообладатели: | Акционерное общество закрытого типа Научно-производственное объединение "Криптон" |
Реферат | |
Изобретение относится к области голографии, а именно к контролю подлинности информации, скрытой в голограммах и дифракционных решетках, и может быть использовано для контроля подлинности ценных бумаг, предметов и т.п., на которых нанесена голограмма со скрытой информацией. Устройство контроля подлинности голограмм, содержащее последовательно расположенные на оптической оси когерентный источник света, коллимирующую оптическую систему, рамку для установки голограммы, фазовую маску, фурье-объектив и диффузный экран, а фазовая маска выполнена в виде растра периодически расположенных микролинз, причем задняя фокальная плоскость микролинз совмещена с передней главной плоскостью фурье-объектива. При этом допустимый сдвиг голограммы относительно устройства равен
 ,
где f0 - фокусное расстояние фурье-объектива, dэ - размер диффузора-экрана, r - радиус микролинз растра, n - показатель преломления растра. Указанное выполнение фазовой маски позволяет сделать устройство контроля инвариантным к сдвигу голограммы относительно него в пределах допуска +/- X при рассматривании изображения. 3 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента