|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПОВЕРХНОСТНОГО СОПРОТИВЛЕНИЯ ВЫСОКОПРОВОДЯЩИХ МАТЕРИАЛОВ |  |
Номер публикации патента: 2094783 |  |
| Редакция МПК: | 6 | | Основные коды МПК: | G01N022/00 | | Аналоги изобретения: | Авторское свидетельство СССР N 1363036, кл. G 01 N 22/00, 1987. |
| Имя заявителя: | Санкт-Петербургский государственный университет | | Изобретатели: | Столяров О.И.
Цимбал Ф.А. | | Патентообладатели: | Санкт-Петербургский государственный университет |
Реферат | |
Способ позволяет достаточно просто проводить измерение поверхностного сопротивления (вещественной части комплексного поверхностного импеданса) высокопроводящих образцов, в том числе образцов сверхпроводящих, в диапазоне СВЧ и обладает универсальностью по отношению к форме образца. В отличии от известных аналогичных способов простота достигается измерением только коэффициента стоячей волны в волноводе, связанном с измерительным резонатором, с помощью современного панорамного измерительного прибора. Предварительная калибровка проводится с применением двух эталонных образцов с известным поверхностным сопротивлением той же геометрической формы и размеров, что и исследуемый образец. Для исследования материалов с высокотемпературной сверхпроводимостью хорошо подходят эталонные образцы из меди и свинца. Существенных ограничений на форму исследуемых образцов нет, но более удобны образцы правильной геометрической формы с точки зрения просторы изготовления эталонных образцов. Минимальная площадь поверхности образцов в 3-х сантиметровом диапазоне около 5 см2, на других частотах она прямо пропорциональна длине в свободном пространстве. Принципиальной стороной способа является доказанная возможность установления связи между коэффициентом стоячей волны и поверхностным сопротивлением независимо от структуры поля рабочего типа колебаний измерительного резонатора и добротности, если последняя достаточно высока. Четко определено само понятие поверхностного сопротивления, которое подлежит измерению и является общепризнанным. Разработанный способ наиболее удобен для измерения поверхностного сопротивления на СВЧ вновь разрабатываемых сверхпроводящих материалов. 1 ил., 1 табл.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента