|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЙ СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ОПТИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК ОПТИЧЕСКИХ ЭЛЕМЕНТОВ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ (ВАРИАНТЫ) |  |
Номер публикации патента: 2078307 |  |
| Редакция МПК: | 6 | | Основные коды МПК: | G01B011/24 | | Аналоги изобретения: | 1. Кривовяз Л.М., Пуриев Д.Т., Знаменская М.А. Практика оптической измерительной лаборатории.- М.: Машиностроение, 1974, с. 332. 2. Креопалова Г.П., Пуриев Д.Т. Исследование и контроль оптических систем.- М.: Машиностроение, 1978, с. 224. 3. ОМS-100. Instruchion manual ROt lex Ophics LtD Industrial Park 86800, Д.N. arovea, Israel, 1989, p. 51. 4. Авторское свидетельство СССР N 1116333, кл. G 01 M 11/02, 1984. 5. Авторское свидетельство СССР N 1569640, кл. G 01 B 11/24, 1988. |
| Имя заявителя: | Индивидуальное частное научно-производственное предприятие "Квалитет" | | Изобретатели: | Кулеш В.П.
Москалик Л.М.
Близнюк Ю.А.
Шаров А.А. | | Патентообладатели: | Индивидуальное частное научно-производственное предприятие "Квалитет" |
Реферат | |
Изобретение относится к измерительной технике, в частности к интерференционным измерительным средствам. Цель: повышение точности и расширение функциональных возможностей при определении оптических характеристик оптических элементов. Сущность изобретения: смещают частоту света одного из интерферирующих пучков на заданную величину, преобразовывают проинтерферировавший свет во множестве точек плоскости интерференции в переменные электрические сигналы, измеряют фазы полученных сигналов, аппроксимируют результаты измерения степенным полиномом и вычисляют оптические характеристики оптического элемента из найденных коэффициентов полинома. Устройство, реализующее способ, содержит вычислительное устройство, обеспечивающее управление и обработку результатов. Другой вариант способа предполагает сдвиг оси опорного пучка параллельно относительно оси измерительного пучка на заданную величину и в заданном направлении в плоскости интерференционной картины с последовательным изменением угла заданного направления сдвига и измерением распределения фаз в плоскости интерференционной картины, а по результатам измерений - определение оптических характеристик оптического элемента для каждого из этих направлений. Устройство, реализующее данный вариант способа включает в том числе устройства смещающие оси опорного пучка, изменение угла направления смещения и вычислительное устройство. 4 с. и 10 з.п. ф-лы, 7 ил.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента