|
На данной странице представлена ознакомительная часть выбранного Вами патента
Для получения более подробной информации о патенте (полное описание, формула изобретения и т.д.) Вам необходимо сделать заказ. Нажмите на «Корзину»
| СПОСОБ ДЕФЕКТОСКОПИИ ПОВЕРХНОСТЕЙ |  |
Номер публикации патента: 2069353 |  |
| Редакция МПК: | 6 | | Основные коды МПК: | G01N021/88 | | Аналоги изобретения: | 1. Испытание матеpиалов. Справочник под ред. Балюменауэра Х. - М.: Металлургия, 1977, с. 447. 2. Авторское свидетельство СССР N 1260780, кл. G 01N 21/88, 1986. 3. Аэро Э.Л. и др. Визуализация поверхностных дефектов различной природы с помощью нематических жидких кристаллов. - Труды ГОИ, 1986, т. 60, вып. 194, с. 118. |
| Имя заявителя: | Институт проблем машиноведения РАН | | Изобретатели: | Сапрыкина Н.Н.
Сыромятникова Т.А. | | Патентообладатели: | Институт проблем машиноведения РАН |
Реферат | |
Изобретение относится к методам дефектоскопии, применяемым в микроэлектронной, оптико-механической и оборонной промышленности для контроля качества высококлассных поверхностей, с шероховатостью менее 10-2 мкм, прозрачных и непрозрачных материалов, включая оптические, монокристаллические и металлические поверхности. Сущность изобретения: способ заключается в том, что исследуемую поверхность активируют в высокочастотной плазме дугового разряда по безкатодному способу в атмосфере аргона при режимах, не допускающих распыления материала исследуемой поверхности. Сразу после активации на поверхность наносят слой жидкого кристалла толщиной 1 мкм, защищенный покровным стеклом, и формируют в слое планарную текстуру. Процесс активации гарантирует хорошую смачиваемость поверхность жидким кристаллом, что является необходимым условием образования планарной текстуры. При наблюдении исследуемой поверхности в поляризованном проходящем свете или в отраженном свете визуализируются не видимые при обычных оптических наблюдениях дефекты механической обработки, а также дефекты полиблочности. 1 з.п. ф-лы.
|
Поиск патентов
Получить полное описание патента